IEEE Design & Test

IEEE设计与测试提供了描述用于设计和测试微电子系统的模型、方法和工具的原创作品，从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件。该杂志专注于当前和近期的实践，包括教程、入门文章和现实案例研究。该杂志力求通过专栏、访谈和圆桌讨论，为读者带来重要的技术进步，同时也为技术领导者及其观点。主题包括半导体集成电路设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和生产设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区	否	否

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q3	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q3	2.223
	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE	Q3

IEEE DES TEST期刊全称叫什么?

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