IEEE DES TEST期刊全称叫什么

IEEE DES TEST是IEEE Design & Test期刊的缩写。IEEE DES TEST期刊的出版地是UNITED STATES，主要的研究方向是工程技术-计算机：硬件。

IEEE设计与测试提供了描述用于设计和测试微电子系统的模型、方法和工具的原创作品，从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件。该杂志专注于当前和近期的实践，包括教程、入门文章和现实案例研究。该杂志力求通过专栏、访谈和圆桌讨论，为读者带来重要的技术进步，同时也为技术领导者及其观点。主题包括半导体集成电路设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和生产设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。

该刊的年访问量是46篇，从官网https://www.ieee.org/membership-catalog/productdetail/showProductDetailPage.html?product=PER311-EPC上查到本刊的通讯地址是445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141，投稿地址是。