IEEE DES TEST COMPUT期刊全称叫什么

IEEE DES TEST COMPUT是IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS期刊的缩写。IEEE DES TEST COMPUT期刊的出版地是UNITED STATES，。

该刊的年访问量是41篇，发行周期是Bimonthly，从官网http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54上查到本刊的通讯地址是IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314，投稿地址是https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs。网友对该刊的审稿速度给与的评价是>12周，或约稿，录用比一般是较易。