IET计算机和数字技术出版技术论文，描述了电子和嵌入式系统芯片上数字系统设计和测试各个方面的最新研究和开发工作，包括设计自动化工具（方法、算法和体系结构）的开发。基于缩小CMOS技术相关问题的论文尤其受欢迎。它面向计算机和数字系统设计和测试领域的研究人员、工程师和教育工作者。重点关注的主题领域有：设计方法和工具：CAD/EDA工具、硬件描述语言、高级和体系结构综合、硬件/软件协同设计、基于平台的设计、3D堆叠和电路设计、系统芯片架构和IP核心、嵌入式系统、逻辑综合、低功耗设计和功率优化。仿真、测试和验证：电气和定时仿真、基于仿真的验证、硬件/软件协同仿真和验证、混合域技术建模和仿真、硅后验证、功率分析和估计、互连建模和信号完整性分析、硬件信任和安全、可测试性设计、嵌入式核心测试、系统芯片测试、在线测试、自动测试生成和延迟测试、低功率测试、可靠性、故障建模和容错。处理器和系统架构：许多核心系统、通用和特定于应用程序的处理器、DSP应用程序的计算算法、算术和逻辑单元、缓存存储器、内存管理、协处理器和加速器、芯片上的系统和网络、嵌入式核心、平台、多处理器、分布式系统、通信协议和低功耗问题。可配置计算：嵌入式核心、FPGA、快速原型、自适应计算、可演化和静态、动态可重构和可重编程系统、可重构硬件。变率、功率和老化设计：变率、功率和老化感知设计、存储器、FPGA、IP组件、3D叠加、能量采集的设计方法。案例研究：新兴应用、工业设计应用和设计框架。
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