《电子测试杂志》是唯一专门从事电子测试的杂志，它是一个国际论坛，传播该领域的最新研究成果和应用。随着期刊迅速进入出版周期，它迅速地将重要的发现引起了研究者和实践者的注意。期刊所涵盖的部分主题包括：VLSI器件、印刷电路板和电子系统的测试；故障建模和模拟；测试生成；可测试性设计；电子束测试系统；硬件的正式验证；验证模拟；设计调试；测试经济性；质量和可靠性和CAD工具。除了最初的研究论文外，该杂志还发表了具有卓越功绩的会议论文。读者还可以找到调查和评论，研究该领域的最新技术。
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