《微电子可靠性》致力于传播有关微电子器件、电路和系统可靠性的最新研究成果和相关信息，从材料、工艺和制造，到设计、测试和操作。杂志的内容包括:测量、理解和分析;评估和预测;建模与仿真;方法和缓解。将可靠性与微电子工程的其他重要领域，如设计、制造、集成、测试和现场操作相结合的论文也将受到欢迎，并特别鼓励在该领域和具体应用领域报告实际案例研究的论文。大多数被接受的论文将作为研究论文发表，描述重大进展和完成的工作。审查一般感兴趣的重要发展主题的论文可以作为审查论文发表。可以考虑将性质较初步的紧急来文和关于目前感兴趣的已完成实际工作的简短报告作为研究说明出版。所有的贡献都要经过该领域主要专家的同行审查。其他常规功能包括:?专门讨论重大国际会议或重要发展主题的专题?给编辑的信?行业新闻和更新?即将举行活动的日历?书评微电子可靠性是一个不可或缺的论坛，在学术和工业环境的微电子可靠性专业人士之间，以及所有那些以任何方式与一个稳步增长的微电子工业及其许多应用领域相关的人之间，交流知识和经验。
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：应用 | 4区 4区 4区 | 否 | 否 |
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| Q4 | NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | Q4 | 1.418 |
| PHYSICS, APPLIED | Q4 | ||
| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | Q4 |
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